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IC芯片自动化视觉检测设备检测电容电阻尺寸方案!

返回列表 来源:admin 浏览: 发布日期:2020-03-10 11:52
一、检测内容及要求
 
检测内容:
       最大尺寸长30mm*宽15mm的产品的尺寸检测
序号 检测位置 检测方式 是否可检
1 针脚台阶尺寸 背光检测 可检
2
 

 

 
3
 

 

 
4 倒角位置
 
不可检
5 斜面位置
 
不可检

注明:IC芯片自动化视觉检测设备检测项目,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于150件(取决于产品送料速度)

二、设备组成及主要机构
 
设备型号:SP-T300非标定制机          外形尺寸:900*800*1850mm
         组成部件清单:
序号 部件名称 规格型号 数量 备注
1 视觉检测软件 SIPOTEK 1套 数据可上传
2 工业电脑 SIPOTEK定制 1套
 
3 显示器 PHILIPS  19”液晶显示器 1台
 
4 工业相机 Barsler工业相机 1套
 
5 相机调节伺服模组 SIPOTEK定制 1套
 
6 工业镜头 FA高清光学工业镜头 1套
 
7 光源 定制光学自适应光源 1套
 
8 检测平台 专业光学玻璃载台 1套
 
9 伺服电机 松下·PANASONIC 1套
 
10 控制系统 SIPOTEK定制 1套
 
11 PLC运动协作 松下·PANASONIC 1套
 
IC芯片自动化视觉检测设备外观3D立体图

IC芯片自动化视觉检测设备
三、样件测试图片:
顶部背光检测原图(G8301909-102-LFS1):

顶部背光检测原图

 
顶部背光检测良品分析图(G8301909-102-LFS1):OK

顶部背光检测良品分析图
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顶部背光检测原图

顶部背光检测良品分析图(G8340010-001-LFS1):OK

顶部背光检测良品分析图

顶部背光检测原图(34475-001-LFS1):

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顶部背光检测良品分析图(34475-001-LFS1):OK

顶部背光检测良品分析图
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IC芯片自动化视觉检测设备

 
顶部背光检测良品分析图(LED-45188551-LF):OK

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顶部背光检测原图(TS1025186-00-AS1):

IC芯片自动化视觉检测设备

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IC芯片自动化视觉检测设备
顶部背光检测原图(G8386152-003-AS1):

IC芯片自动化视觉检测设备

 
顶部背光检测良品分析图(G8386152-003-AS1):OK

IC芯片自动化视觉检测设备

顶部背光检测原图(P1071964-S1):

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顶部背光检测良品分析图(P1071964-S1):OK

IC芯片自动化视觉检测设备

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